一种微型激光芯片老化测试系统
基本信息
| 申请号 | 2020212329909 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212433335U | 公开（公告）日 | 2021-01-29 |
| 申请公布号 | CN212433335U | 申请公布日 | 2021-01-29 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 林辉 | 申请（专利权）人 | 武汉普斯讯科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 傅海鹏 |
| 地址 | 436070湖北省鄂州市葛店开发区创业大道40号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种微型激光芯片老化测试系统，涉及微型激光器测试领域，其包括上电模块、温控模块和机架模块，所述上电模块、温控模块均安装于所述机架模块上，所述温控模块包括设置于机架模块上的风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱，老化子箱内设置有微型激光芯片，所述风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱相互电连接；所述温控模块用于控制各个老化子箱的温度；所述上电模块用于为各个老化子箱中的微型激光芯片供电。整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试，且能够在多个通道集中进行老化测试，同时，操作方便、价格低廉。 |
