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一种光器件表面完整性的检测装置

基本信息

申请号 CN202021575117.X 申请日 -
公开（公告）号 CN213580680U 公开（公告）日 2021-06-29
申请公布号 CN213580680U 申请公布日 2021-06-29
分类号 G01N21/84（2006.01）I;G01N21/88（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 林辉 申请（专利权）人 武汉普斯讯科技有限公司
代理机构 北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 傅海鹏
地址 436070湖北省鄂州市葛店开发区创业大道40号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种光器件表面完整性的检测装置，包括底座，所述底座上方设有检测单元，所述底座包括有减震垫与底板，所述底板的底部安装有多个减震垫，所述底板的顶部活动连接有检测单元，所述检测单元包括有固定杆、转接件、电荷耦合器、调整件和显示屏，所述固定杆的顶端活动连接有转接件，所述转接件正面设有调整件，且所述调整件上活动连接有电荷耦合器，所述底板的底部通过螺钉连接有四个减震垫，所述底板上开设有第一槽孔，所述第一槽孔中通过顶丝连接有固定杆。本实用新型通过各种结构的组合使得本装置能够对光器件进行统一的标准检测，且本装置装置便捷、实用、成本低，能较好的检测光器件表面的完整性。