一种阵列波导光栅芯片外观检验盒
基本信息
| 申请号 | CN202120550662.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214374368U | 公开（公告）日 | 2021-10-08 |
| 申请公布号 | CN214374368U | 申请公布日 | 2021-10-08 |
| 分类号 | G01N21/88（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 白航;杨明;肖潇;何伟炜 | 申请（专利权）人 | 众瑞速联（武汉）科技有限公司 |
| 代理机构 | 南京纵横知识产权代理有限公司 | 代理人 | 徐瑛 |
| 地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路18号新特光电工业园产业大楼（科苑楼）601室（自贸区武汉片区） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开一种阵列波导光栅芯片外观检验盒，包括：外框、上盖、下盖、芯片阵列定位框和阵列波导光栅芯片，芯片阵列定位框设置于外框内，上盖和下盖分别置于芯片阵列定位框的正反两面且与外框可拆卸连接，上盖和下盖均为透明盖板；芯片阵列定位框内均匀布设有多个中空的定位槽，多个所述中空的定位槽内分别放置有阵列波导光栅芯片。本实用新型采用外框内设置芯片阵列定位框的结构，芯片阵列定位框上形成阵列布置的定位槽，定位槽内放置阵列波导光栅芯片，且用透明的上盖和下盖盖在芯片阵列定位框的正反两面，通过正反两面的透明板可清楚查看定位槽内阵列波导光栅芯片的外观表面，实现一次性检查多个阵列波导光栅芯片的两面外观状态。 |
