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一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置

基本信息

申请号 CN202210175725.9 申请日 -
公开（公告）号 CN114609499A 公开（公告）日 2022-06-10
申请公布号 CN114609499A 申请公布日 2022-06-10
分类号 G01R31/26（2014.01）I;H01L21/66（2006.01）I;H01L21/68（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 程万坡;张兴杰;王荣元 申请（专利权）人 江苏韦达半导体有限公司
代理机构 北京康达联禾知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 -
地址 225000江苏省扬州市维扬经济开发区科技园路8号8
法律状态 -

摘要

摘要 本发明属于电子元件生产领域，尤其是一种可检测击穿电压的双极型晶体管制造装置，针对现有的双极型晶体管在生产过程中，没有设置相关的击穿检测装置，还需人工进行检测，比较浪费时间，使得生产效率低下的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部固定安装有安装架，且安装架的顶部固定安装有放置罩，所述放置罩内设有晶体管，所述安装架的顶部内壁上对称固定安装有插接组件，且插接组件的数量为两个，本发明通过对晶体管进行卡装定位，之后可对晶体管进行正向和反向电流测试，以此能够对晶体管进行性能测试和逆向击穿测试，因此相较于传统的检测方式，本技术方案具有良好的方便性，因此能够提高晶体管的生产效率。