驱动测试结构、阵列基板及显示面板
基本信息
申请号 | CN202220637906.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN216956611U | 公开(公告)日 | 2022-07-12 |
申请公布号 | CN216956611U | 申请公布日 | 2022-07-12 |
分类号 | G02F1/1362(2006.01)I;G02F1/1345(2006.01)I | 分类 | 光学; |
发明人 | 胡云钦;黄世帅;张立志;王晓洁;李荣荣 | 申请(专利权)人 | 滁州惠科光电科技有限公司 |
代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 239000安徽省滁州市经济技术开发区苏滁大道101号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请涉及显示技术领域,提供一种驱动测试结构、阵列基板及显示面板,驱动测试结构设于阵列基板的扇出区,驱动测试结构包括:多个焊盘,多个焊盘间隔设置;至少一测试垫组,测试垫组设于任意相邻的两个焊盘之间;多个焊盘与测试垫组相互连通。本申请通过把测试垫组设置于任意相邻的焊盘之间的方法,从而避免将测试垫组设置于外引线焊接区的左右两侧,以解决现有技术中为配合缩小尺寸的测试垫组使用,而需要制造更精细的测试探针及测试治具以适配并测试缩小的测试垫组,导致制造成本增加,以及对探针接触测试垫组的操作精准度要求更高,导致测试难度加大的技术问题。 |
