一种微波器件测试夹具
基本信息
申请号 | CN202110488431.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113189375A | 公开(公告)日 | 2021-07-30 |
申请公布号 | CN113189375A | 申请公布日 | 2021-07-30 |
分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I;H05K7/20(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 周玉军;柴俊标;卜建明 | 申请(专利权)人 | 杭州中安电子有限公司 |
代理机构 | 杭州浙言专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 顾传虎 |
地址 | 311123浙江省杭州市余杭区余杭街道圣地路6号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种微波器件测试夹具,包括微波器件压紧装置、夹紧扣死装置以及测试平台,测试平台中间设有辅助器件安装空间,其上的SMA对接孔、探针组对接孔、温度传感器对接孔贯穿所述测试平台与微波器件测试空间相连通,辅助器件安装空间内设置有辅助器件安装块;微波器件压紧装置设置在微波器件测试空间上端,夹紧扣死装置设置在微波器件压紧装置前侧。该夹具采用旋钮式压紧微波器件方式,无需螺钉紧固,增加微波器件抬升装置,使紧密配合的微波器件和测试平台更容易平行分离,同时将测试平台和散热平台一体化设计,增加限位装置,保证了测试的精度并提高了微波器件的测试效率,使测试过程更加方便,节约时间,降低人工成本。 |
