高速ADC芯片的自动测试平台及其软件架构设计方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

高速ADC芯片的自动测试平台及其软件架构设计方法

基本信息

申请号	CN201710433927.8	申请日	-
公开（公告）号	CN107390109B	公开（公告）日	2019-12-24
申请公布号	CN107390109B	申请公布日	2019-12-24
分类号	G01R31/28	分类	测量；测试;
发明人	王潜	申请（专利权）人	苏州迅芯微电子有限公司
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	苏州迅芯微电子有限公司
地址	215028 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街218号A—110C单元
法律状态	-

摘要

本发明公开一种高速ADC芯片的自动测试平台及其软件架构设计方法，设计方法包括：步骤1、FPGA底层逻辑驱动设计：FPGA底层逻辑部分，完成硬件基础的搭建，包括实现硬件模块的底层逻辑控制、基础计算和软核硬件配置；主要设计包括被测高速ADC的同步驱动算法设计、校准算法设计、板载高精度ADC/DAC和寄存器阵列的硬件驱动设计、硬件FFT运算；步骤2、测试参数获取：FPGA软核接收上位机命令控制测试流程，并发送命令给FPGA硬件程序，驱动外部电路，获取数据，应用处理算法，得出测试参数数值；测试参数主要分为静态参数和动态参数；步骤3、上位机程序设计。实现了同时测量芯片的高精度电平特性与高速率数据特性，并通过编程控制，可实现“一键获取”。