辐射测量设备和方法

基本信息

申请号 CN202110117454.7 申请日 -
公开(公告)号 CN112946720A 公开(公告)日 2021-06-11
申请公布号 CN112946720A 申请公布日 2021-06-11
分类号 G01T1/18 分类 测量;测试;
发明人 张俊奎;张阳天;涂德海;任恒飞;乐爱兵;吴彬;孙强强 申请(专利权)人 北京方鸿智能科技有限公司
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 张启程
地址 101500 北京市密云区经济开发区园林路18号17号楼5206室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供辐射测量设备和方法。辐射测量设备包括第一盖革‑米勒计数器(GM1)、第二盖革‑米勒计数器(GM2)和加权计算器(20)。如果辐射能量相同,则第一和第二盖革‑米勒计数器的实测能量响应值的误差趋势彼此不同,优选地彼此相反。加权计算器对第一和第二盖革‑米勒计数器的实测能量响应值进行加权计算(例如取平均值),将计算出的值作为辐射测量设备的能量响应测量值。第一和第二盖革‑米勒计数器都包括盖革‑米勒计数器裸管(11)和包裹在盖革‑米勒计数器裸管上的金属层。辐射测量设备对高于80keV的γ/X射线的能量响应测量值与其对由铯‑137产生的662keV的γ射线的能量响应测量值相比,归一化后的差值在±10%以内。