辐射测量设备和方法
基本信息
申请号 | CN202110117454.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112946720A | 公开(公告)日 | 2021-06-11 |
申请公布号 | CN112946720A | 申请公布日 | 2021-06-11 |
分类号 | G01T1/18 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 张俊奎;张阳天;涂德海;任恒飞;乐爱兵;吴彬;孙强强 | 申请(专利权)人 | 北京方鸿智能科技有限公司 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 张启程 |
地址 | 101500 北京市密云区经济开发区园林路18号17号楼5206室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供辐射测量设备和方法。辐射测量设备包括第一盖革‑米勒计数器(GM1)、第二盖革‑米勒计数器(GM2)和加权计算器(20)。如果辐射能量相同,则第一和第二盖革‑米勒计数器的实测能量响应值的误差趋势彼此不同,优选地彼此相反。加权计算器对第一和第二盖革‑米勒计数器的实测能量响应值进行加权计算(例如取平均值),将计算出的值作为辐射测量设备的能量响应测量值。第一和第二盖革‑米勒计数器都包括盖革‑米勒计数器裸管(11)和包裹在盖革‑米勒计数器裸管上的金属层。辐射测量设备对高于80keV的γ/X射线的能量响应测量值与其对由铯‑137产生的662keV的γ射线的能量响应测量值相比,归一化后的差值在±10%以内。 |
