IGBT器件动态测试用夹具及方法
基本信息
| 申请号 | CN202010357952.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113655242A | 公开（公告）日 | 2021-11-16 |
| 申请公布号 | CN113655242A | 申请公布日 | 2021-11-16 |
| 分类号 | G01R1/04（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王真;万超群;李贵生;陈彦;宋自珍;陈喻;李义;翟龙;朱婷 | 申请（专利权）人 | 株洲中车时代半导体有限公司 |
| 代理机构 | 北京聿宏知识产权代理有限公司 | 代理人 | 吴大建;张高洁 |
| 地址 | 412001湖南省株洲市石峰区田心高科园半导体三线办公大楼三楼309室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种IGBT器件动态测试用夹具及方法，涉及IGBT器件技术领域，用于降低测试电路中杂散电感。本发明的IGBT器件动态测试用夹具，包括第一夹具、第二夹具和支撑架，通过将第一夹具和第二夹具分别设置为关于第一IGBT器件和第二IGBT器件对称且具有层叠结构，从而利用电磁耦合原理降低测试电路中杂散电感，有助于提升器件动态参数测试的可靠性。 |
