涂层测厚仪测头
基本信息
| 申请号 | CN202020198868.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211477062U | 公开（公告）日 | 2020-09-11 |
| 申请公布号 | CN211477062U | 申请公布日 | 2020-09-11 |
| 分类号 | G01B21/08(2006.01)I;G01B7/06(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 张磊 | 申请（专利权）人 | 北京时代之峰科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 北京时代之峰科技有限公司 |
| 地址 | 100094北京市海淀区尚东数字谷8号院37号楼5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提出一种涂层测厚仪测头，涉及厚度测量仪器领域，该涂层测厚仪测头包括：测头本体，呈筒状且具有沿其轴向开设的第一安装腔，第一安装腔的一端具有开口，在开口处安装有用于测量涂层厚度的测量组件；手柄，呈筒状并固接在测头本体的外侧壁上，手柄内开设有第二安装腔，第二安装腔内设置有电路板，电路板通过电线与测量组件电连接。本实用新型提出的涂层测厚仪测头具有小巧的外形以满足小直径内孔壁及窄槽壁的涂层厚度测量。 |
