一种非磁性材料光致磁化及超快退磁的检测方法及其装置和应用
基本信息
| 申请号 | CN202011599752.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114690091A | 公开（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申请公布号 | CN114690091A | 申请公布日 | 2022-07-01 |
| 分类号 | G01R33/12（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王晓莉;王菲;唐智勇 | 申请（专利权）人 | 国家纳米科学中心 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 100190北京市海淀区中关村北一条11号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种非磁性材料光致磁化及超快退磁的检测方法及其装置和应用，将线偏振激光脉冲分为泵浦光路和探测光路两路，然后将所述泵浦光路的线偏振激光脉冲处理得到单一波长的圆偏振泵浦光，将非磁性材料实现带内激发，并将所述探测光路的线偏振激光脉冲处理得到延迟后的具有波谱的圆偏振探测光，用于探测被激发与未被激发的非磁性材料的瞬态光谱，利用自旋选择定则，通过检测具有不同偏振态的圆偏振探测光的瞬态吸收差异反映光致磁化强度，进一步调节所述圆偏振探测光对应的延迟时间Δt，利用所述光致磁化强度的变化情况拟合得到超快退磁弛豫时间，为非磁性材料用于超快光磁开关或超快光控存储提供可能。 |
