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一种测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装

基本信息

申请号 CN202023209828.8 申请日 -
公开（公告）号 CN214224358U 公开（公告）日 2021-09-17
申请公布号 CN214224358U 申请公布日 2021-09-17
分类号 G01J1/42（2006.01）I;G01J1/04（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 钱煜;潘攀;周红轮;周小燕;孔繁林;袁鎏;缪奇;路小龙 申请（专利权）人 西南技术物理研究所
代理机构 中国兵器工业集团公司专利中心 代理人 辛海明
地址 610041四川省成都市武侯区人民南路四段七号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种测试针压接接触式象限类光电探测器测试工装，属于光电探测器测试领域。本实用新型的底座设有若干个上部粗，下部细的台阶孔，中间设置通孔，底座两侧挖空，并各安装一个不锈钢连接杆，底座另外两侧有两个安装孔；顶座设有若干个上部细，下部粗的台阶孔，用于放置测试针和器件管脚，中间设置通孔，用于放置螺丝以便固定底座和顶座；压板中间为一个圆孔，该圆孔直径大于器件管帽直径且小于器件最大外径，用于压接固定器件；两侧分别有一个可旋转的侧壁，侧壁底部为钩状，用于钩住底座的连接杆，使被测器件与测试针保持紧密连接。本实用新型对器件管脚精度要求不高，不易产生接触不良，使用寿命长，上下器件方便。