一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法
基本信息
申请号 | CN202010303851.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111458588B | 公开(公告)日 | 2022-05-31 |
申请公布号 | CN111458588B | 申请公布日 | 2022-05-31 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 羊杨 | 申请(专利权)人 | 恒为科技(上海)股份有限公司 |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 201114上海市闵行区陈行公路2388号8号楼6楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请公开了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法,其中,所述差分耦合线除了信号线之外,还包括两个第一测试线和两个第二测试线,所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接,另一端用于连接测试连接器,所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接,另一端用于连接测试连接器,且所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配,所述第二测试线与所述第二信号线的阻抗匹配,使得在对所述差分耦合线进行损耗测试时,可以通过为所述第一测试线和第二测试线连接测试连接器的方式对所述差分耦合线进行损耗测试,解决了现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。 |
