首页/ 湖北方晶电子科技有限责任公司/ 专利详情

一种芯片翘曲测试装置

基本信息

申请号 CN202123145014.7 申请日 -
公开（公告）号 CN216410091U 公开（公告）日 2022-04-29
申请公布号 CN216410091U 申请公布日 2022-04-29
分类号 G01B11/16（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 詹鑫源 申请（专利权）人 湖北方晶电子科技有限责任公司
代理机构 无锡智麦知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 宋春荣
地址 430000湖北省宜昌市秭归县茅坪镇迎宾路126号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开一种芯片翘曲测试装置，涉及芯片测试领域。包括支撑台、翘曲测量组件、工位板和连接组件，支撑台顶端的中部开设有嵌放槽，嵌放槽内设置有旋转电机；翘曲测量组件设置在支撑台的顶端；工位板设置在支撑台顶端的中部，工位板的底端固定连接有连接套管；连接组件设置在旋转电机的输出端，连接组件包括连接杆，连接杆顶部的两侧均设置有锁定机构，锁定机构包括移动滑杆。该实用新型，通过连接组件的设计，使得工位板与旋转电机的连接能够进行自由和轻松的拆卸，这样就能欧方便直接更换工位板，此时就节省了大量在工位板处记性芯片的拆装时间，使得整个检测装置能够实现快速检测。