一种大电流功率器件测试治具使用寿命管理方法
基本信息
| 申请号 | CN202110155302.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112964926B | 公开（公告）日 | 2022-05-13 |
| 申请公布号 | CN112964926B | 申请公布日 | 2022-05-13 |
| 分类号 | G01R19/17（2006.01）I;G01R27/02（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I;G06M1/27（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王异凡;龚金龙;杨青;刘黎;王一帆;孙明;林氦;邓志江;曾振源;张斌;陈少华;宋琦华;周迅;曹力力;张翾喆;汪桢毅;姜烔挺 | 申请（专利权）人 | 浙江大学绍兴微电子研究中心 |
| 代理机构 | 浙江翔隆专利事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 310014浙江省杭州市下城区朝晖八区华电弄1号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种大电流功率器件测试治具使用寿命管理方法，属于电力技术领域，目的在于克服现有测试治具寿命判定不准确的缺陷。测试治具使用寿命管理方法，当测试治具达成第一条件、第二条件和第三条件之一时，则判断测试治具寿命终止。本发明所提供的一种大电流功率器件测试治具使用寿命管理方法，通过预设三种条件，当其中一种条件满足时就判断测试治具寿命终止，其中第一条件为对接插件接插动作次数、通电次数和过流次数的综合考量，第二条件为对接插件阻抗增加程度的考量，第三条件为对接插件相邻两次阻抗变化率的考量，这样就提高了判断测试治具寿命终止的可靠性。 |
