一种半导体晶粒分离加工工艺

基本信息

申请号 CN202110015869.3 申请日 -
公开(公告)号 CN112542423A 公开(公告)日 2021-03-23
申请公布号 CN112542423A 申请公布日 2021-03-23
分类号 H01L21/78(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 周荣;李英男;陶永发;王林;王毅 申请(专利权)人 扬州杰利半导体有限公司
代理机构 扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 葛军
地址 225008江苏省扬州市邗江区维扬经济开发区创业园中路26号
法律状态 -

摘要

摘要 一种半导体晶粒分离加工工艺。提供了一种方便操作,提高工作效率和产品质量的半导体晶粒分离加工工艺。包括以下步骤:S1、墨水打标;在晶片的不良品晶粒上打上黏性墨水;S2、烘烤;将晶片经过60‑120℃的高温烘烤10‑60min;S3、切割;通过激光切割晶片呈半切透状;S4、压片:在晶片的P面先涂上一层无水乙醇后,再将晶片放置在两张麦拉纸之间,然后,进行压片,将晶片沿着切割痕裂成若干晶粒;S5、揭开晶片P面的麦拉纸,带走不良品晶粒;S6、完成。所述黏性墨水为印刷油墨。本发明节省了时间,降低了成本。