一种用于数模混合信号集成电路的测试装置
基本信息
| 申请号 | CN200920031687.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN201331568Y | 公开（公告）日 | 2009-10-21 |
| 申请公布号 | CN201331568Y | 申请公布日 | 2009-10-21 |
| 分类号 | G01R31/3167(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘义芳 | 申请（专利权）人 | 西安明泰半导体测试有限公司 |
| 代理机构 | 西安弘理专利事务所 | 代理人 | 西安明泰半导体测试有限公司;西安明泰半导体科技有限公司 |
| 地址 | 710065陕西省西安市高新区锦业路28号创业新大陆工业园B-1 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于数模混合信号集成电路的测试装置，包括模拟电路测试系统和测试板，在测试板上设置有数字信号测试模块和数模混合类IC的测量工位，数模混合类IC中的数字部分与数字信号测试模块连接、数模混合类IC中的模拟部分还通过测试板上的接口与模拟电路测试系统的电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制接口、时间单元分别连接；其中的数字信号测试模块由电源模块、微控制器、数字接口和电平匹配构成，电源模块分别与微控制器和电平匹配连接，电平匹配与微控制器连接，微控制器与数字接口连接。本实用新型的测试装置，具有数模混合信号测试功能，结构简单，制作成本低。 |
