功率MOSFET器件雪崩能量测试仪
基本信息
申请号 | CN200910219513.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN101750539A | 公开(公告)日 | 2010-06-23 |
申请公布号 | CN101750539A | 申请公布日 | 2010-06-23 |
分类号 | G01R22/00(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 李志强 | 申请(专利权)人 | 西安明泰半导体测试有限公司 |
代理机构 | 西安弘理专利事务所 | 代理人 | 西安明泰半导体测试有限公司;西安明泰半导体科技有限公司 |
地址 | 710065 陕西省西安市高新区锦业路28号创业新大陆工业园B-1 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种功率MOSFET器件雪崩能量测试仪,包括前端雪崩测试电路和后端雪崩电流采样电路,所述前端雪崩测试电路的硬件结构是,包括可调直流电源,可调直流电源与保险丝、MOSFET器件、电感、电流感应器、待测MOSFET器件依次连接构成回路;MOSFET器件的漏极与待测MOSFET器件的源极之间并联有电解电容和瓷片电容;MOSFET器件的源极与待测MOSFET器件的源极之间连接有二极管;所述后端雪崩电流采样电路的结构是,信号调理电路和基准源电路与模数转换器连接,模数转换器与FPGA控制逻辑连接,FPGA控制逻辑分别与测试机信号连接器、MOS驱动电路和分选机信号连接器连接。本发明的测试仪能提供高瞬间电流进行雪崩能量测试。 |
