基于标志点的全局绝对相位对齐方法、存储介质和系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

基于标志点的全局绝对相位对齐方法、存储介质和系统

基本信息

申请号	CN202110301467.X	申请日	-
公开（公告）号	CN113074667A	公开（公告）日	2021-07-06
申请公布号	CN113074667A	申请公布日	2021-07-06
分类号	G01B11/25（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	赵顺顺;田乃鲁;谷孝东;黄煜;曹葵康;刘明星;徐一华;其他发明人请求不公开姓名	申请（专利权）人	苏州天准软件有限公司
代理机构	上海华诚知识产权代理有限公司	代理人	徐颖聪
地址	215000江苏省苏州市高新区科灵路78号2号楼502室
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种基于标志点的全局绝对相位对齐方法、存储介质和系统，方法适用于采用空间相位展开算法进行相位解包裹场合，系统采用该方法输出了三维信息，主要解决了如何对齐测量平面相位与投影仪像平面全局绝对相位的问题。主要步骤包括：在投射条纹图像时，额外投射一幅标志点图像；通过阈值分割、边缘提取、最小外接矩形方法，提取出标志点中心；根据已有的测量平面解包裹相位图，得到该测量平面上标志点位置的相位级次ki，（i＝1,2,3…）；已知在投影仪中，标志点处的全局绝对相位级次为j，记Δk＝j‑k，将测量平面解包裹相位图上所有像素点的条纹级次都加上Δk，即可使得测量平面相位与全局绝对相位对齐。本发明只需一幅标志点图像即可使得测量平面相位与全局绝对相位对齐，准确性高，兼具鲁棒性与效率。