一种激光器芯片高频性能测试装置、方法及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202011461819.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112230128A | 公开（公告）日 | 2021-01-15 |
| 申请公布号 | CN112230128A | 申请公布日 | 2021-01-15 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘星;郑波;孙鼎;张伟;李连城;魏志坚;过开甲 | 申请（专利权）人 | 深圳市迅特通信技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 | 代理人 | 深圳市迅特通信技术有限公司;江西迅特通信技术有限公司 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区桃源街道长源社区学苑大道1001号南山智园C3栋701、801 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种激光器芯片高频性能测试装置，包括：基板，以及设置于基板上的校准单元、验证单元和至少一个测试单元；校准单元包括开路模块、短路模块、负载模块和直通模块，校准单元用于对测试仪器的校准；验证单元用于对校准单元的校准结果进行验证；测试单元包括一组测试模块，测试单元用于测试待测激光器芯片的高频性能，解决了现有技术中的测试夹具需要设置额外的陶瓷基板来放置激光器以及额外的金线来导通信号链路，其中的陶瓷基板和金线会影响测试结果的技术问题，达到了消除陶瓷基板和金线的影响，无需编写程序，即可得到准确的激光器高频特性，节省测试时间的技术效果。 |
