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可控硅检测电路及方法、集成芯片和照明驱动电路

基本信息

申请号 CN202110956300.7 申请日 -
公开（公告）号 CN113853039A 公开（公告）日 2021-12-28
申请公布号 CN113853039A 申请公布日 2021-12-28
分类号 H05B45/30（2020.01）I;H05B45/56（2020.01）I 分类 其他类目不包含的电技术;
发明人 张胜有;向睿 申请（专利权）人 杰华特微电子（成都）有限公司
代理机构 杭州创智卓英知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 张超
地址 610000四川省成都市高新区吉泰路666号3栋9层3号
法律状态 -

摘要

摘要 本申请涉及一种可控硅检测电路、可控硅检测方法、集成芯片和具有可控硅检测的照明驱动电路，该可控硅检测电路包括电压采样电路、触发电路和检测电路，通过电压采样电路采集母线电压，通过触发电路接收母线电压和第一电压阈值，当母线电压上升到第一电压阈值时，产生第一触发信号，通过检测电路设置时间阈值和第二电压阈值，通过检测电路接收第一触发信号，当第一触发信号有效时，检测电路根据母线电压、时间阈值和第二电压阈值判断可控硅的接入情况，如此，提高了电路的适用性。本申请解决了相关技术中功耗大且发热严重的问题，提高了安全性。