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集成化IC测试平台

基本信息

申请号 CN201920116361.0 申请日 -
公开（公告）号 CN209525425U 公开（公告）日 2019-10-22
申请公布号 CN209525425U 申请公布日 2019-10-22
分类号 G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 徐振 申请（专利权）人 杭州朗迅科技股份有限公司
代理机构 杭州裕阳联合专利代理有限公司 代理人 杭州朗迅科技有限公司
地址 310000 浙江省杭州市滨江区六和路368号海创基地南楼5F
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种集成化IC测试平台，包括：箱壳体、用于对芯片进行测试的测试主机、用于对测试主机测得的数据进行分析并存储该数据及分析结果的主控制板、用于为测试主机供电的测试主机电源和用于为主控制板供电的主控制板电源；箱壳体形成有安装腔和操作面；测试主机、主控制板、测试主机电源和主控制板电源安装于安装腔内；测试主机电性连接至测试主机电源；主控制板电性连接至主控制板电源；测试主机连接至主控制板；操作面所在平面与水平面之间的夹角大于等于70度小于等于80度。集成化IC测试平台的测试主机和主控制板均集成安装至箱壳体内，体积较小，便于安装。操作面与水平面倾斜相交，便于用户操作。