一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置
基本信息
| 申请号 | CN201720277010.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN206773140U | 公开（公告）日 | 2017-12-19 |
| 申请公布号 | CN206773140U | 申请公布日 | 2017-12-19 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 汤优培;郭昭雄 | 申请（专利权）人 | 广州新星微电子有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市科吉华烽知识产权事务所（普通合伙） | 代理人 | 胡吉科 |
| 地址 | 510880 广东省广州市花都区花山镇平山北路2号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置，属于电子元器件测试装置领域。本实用新型包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。本实用新型的有益效果为：适用于少量的电子元器件的测试检验，与自动化控制装置相比，成本大大降低，结构简单，操作便捷。 |
