电磁错误注入攻击方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN201710564194.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107179448A | 公开（公告）日 | 2017-09-19 |
| 申请公布号 | CN107179448A | 申请公布日 | 2017-09-19 |
| 分类号 | G01R29/08;G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李文宝;李增局;史汝辉;石新凌;赵鹏辉;李海滨;张策;陈百顺;吴祥富;王洋 | 申请（专利权）人 | 北京智慧云测科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡志成知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 北京智慧云测科技有限公司;北京智慧云测信息技术有限公司 |
| 地址 | 100000 北京市门头沟区莲石湖西路98号院7号楼701室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供了电磁错误注入攻击方法及系统，涉及测试技术领域，其中，该电磁错误注入攻击方法包括：首先，由测试平台获取待测试芯片的敏感区域，之后，测试平台获取敏感区域的时间位置，其中，时间位置是敏感区域运行算法相对于触发信号的时间间隔，进而，测试平台能在上述时间位置对敏感区域进行电磁错误注入攻击，通过上述电磁错误注入攻击方法，测试平台能够准确锁定待测试芯片在运行某个算法时的敏感区域，并且，在恰当的时间位置对待测试芯片注入电磁错误以进行攻击，这样提高了测试中攻击的准确度，提高了测试效率。 |
