三维检测系统和三维检测方法
基本信息
申请号 | CN202011457266.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112747671A | 公开(公告)日 | 2021-05-04 |
申请公布号 | CN112747671A | 申请公布日 | 2021-05-04 |
分类号 | G01B11/00;G06K9/00;G06K9/20;G06K9/46;G06K9/62 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 杜华;董伟超;徐玉凯 | 申请(专利权)人 | 北京天远三维科技有限公司 |
代理机构 | 北京开阳星知识产权代理有限公司 | 代理人 | 安伟 |
地址 | 100192 北京市海淀区清河永泰园甲1号综合楼512-519房间 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本公开涉及一种三维检测系统和三维检测方法,该三维检测系统包括:图像采集传感器,用于采集物体表面图像;二维孔特征计算器,用于基于所述物体表面图像,确定孔二维特征参数;三维孔特征计算器,用于基于所述孔二维特征参数,对孔进行三维重建,确定孔三维特征参数;辅助功能计算器,用于基于所述孔二维特征参数和所述孔三维特征参数,对所述孔三维特征参数进行优化。本公开实施例提供的技术方案,通过对物体表面图像进行识别,确定孔二维特征参数和孔三维特征参数,并利用辅助功能计算器对孔三维特征参数进行优化,可实现有效测量孔位。 |
