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基于可编程逻辑器件的多芯片自动测试方法

基本信息

申请号 CN200710134884.X 申请日 -
公开（公告）号 CN101158708B 公开（公告）日 2011-05-04
申请公布号 CN101158708B 申请公布日 2011-05-04
分类号 G01R31/317(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 唐伟 申请（专利权）人 无锡汉柏信息技术有限公司
代理机构 无锡市大为专利商标事务所 代理人 无锡汉柏信息技术有限公司
地址 214028 江苏省无锡市新区新泰路8号江苏国际技术转移中心
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及集成电路自动化测试技术，具体地说是一种基于可编程逻辑器件(FPGA)的多芯片自动测试方法。按照本发明提供的技术方案，在可编程逻辑器件中包括相互连接的采样电路、数字比较器电路、译码器及激励产生电路，其特征是：数字比较器电路的输入端与多路选择器的输出端连接，采样电路的输入端与若干个被测试芯片相连；激励产生电路分别与若干个被测芯片和一个已测芯片连接；译码电路的输出端与多路选择器连接。本发明利用可编程逻辑器件(FPGA)建立一套简单的自动测试系统，可以在测试板上同时完成一个或多个芯片的自动化测试工作，不仅可以实现自动化测试，而且投入成本少、开发速度快，完全可以满足小批量产品测试的要求。