一种可控硅检测装置以及检测方法
基本信息
| 申请号 | CN201810399017.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108957305A | 公开（公告）日 | 2018-12-07 |
| 申请公布号 | CN108957305A | 申请公布日 | 2018-12-07 |
| 分类号 | G01R31/327 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 戴训江 | 申请（专利权）人 | 加码技术有限公司 |
| 代理机构 | 广州三环专利商标代理有限公司 | 代理人 | 加码技术有限公司;茂硕电源科技股份有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道松白路关外小白芒桑泰工业园三楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种可控硅工作状态检测装置及方法，其中装置包括：驱动电路、端电压检测电路以及处理器，其中，驱动电路和检测电路都与处理器连接；驱动电路用于在处理器的控制下产生触发信号，控制双向可控硅的导通；端电压检测电路用于检测双向可控硅第一阳极与第二阳极两端的端电压，并根据端电压输出电平信号；处理器用于根据电平信号以及驱动电路是否产生触发信号，识别双向可控硅的工作状态，其中，所述工作状态包括短路状态、二极管模式以及开路状态。本发明实施例处理器通过是否产生触发双向可控硅导通的触发信号以及双向可控硅两端的端电压，可以识别出双向可控硅的工作状态，以便在双向可控硅发生故障时进行报警，保护电路安全。 |
