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集成电路测试方法与系统

基本信息

申请号 CN202010464875.2 申请日 -
公开（公告）号 CN111751702A 公开（公告）日 2020-10-09
申请公布号 CN111751702A 申请公布日 2020-10-09
分类号 G01R31/28(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 宋卫权;张健 申请（专利权）人 杭州芯讯科技有限公司
代理机构 北京成创同维知识产权代理有限公司 代理人 杭州芯讯科技有限公司
地址 310012浙江省杭州市西湖区黄姑山路9号2幢408室
法律状态 -

摘要

摘要 本申请公开了一种集成电路测试方法与系统。所述测试方法包括：采用测试配置测试多个集成电路以获得测试数据；以及根据测试数据获得多个集成电路的测试结果，其中，在测试步骤中，根据测试数据相关的变更条件实时变更测试配置，测试配置规定至少一个测试项、以及与至少一个测试项对应的测试激励和测试规范。通过对大量实时测试数据的分析，根据测试配置和测试配置的变更条件，在保有基本测试配置的基础上，实时变更部分测试项或测试激励或测试规范，无需通过变更流程升级测试配置即可实行多种测试方案，从而支持更加高效的测试行为，实现智能化测试的目的。