一种减少抛光片表面划痕方法
基本信息
申请号 | CN202010258285.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113492399A | 公开(公告)日 | 2021-10-12 |
申请公布号 | CN113492399A | 申请公布日 | 2021-10-12 |
分类号 | B25J9/16(2006.01)I;B25J15/06(2006.01)I | 分类 | 手动工具;轻便机动工具;手动器械的手柄;车间设备;机械手; |
发明人 | 王锡铭;张俊宝;陈猛 | 申请(专利权)人 | 上海超硅半导体股份有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 400714重庆市北碚区两江新区云汉大道5号附188 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明是一种集成电路用抛光机减少抛光后硅片表面划痕的方法。通过对化学机械抛光机抛光完成后陶瓷盘取盘流程的设计,将抛光机机械手臂抓取陶瓷盘的流程分为水平拉取动作A和垂直抓取动作B;水平拉取动作A由相同的、周期性发生单元水平拉取动作a(简称为单元动作a)构成,垂直抓取动作B由n个垂直方向上的单元垂直拉取动作(简称单元动作b)组成,在单元动作b中所受的提拉力Fn随提拉次数n改变,单元动作a与单元动作b交替进行共同构成陶瓷盘抓取的整体动作,以此使得抓取陶瓷盘过程的水平移动总距离S和垂直移动总距离H最小,在减小机械手损伤的同时减小抛光片产品出现划伤的可能。 |
