干涉法折射率测定仪
基本信息
| 申请号 | CN92108381.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN1077533A | 公开（公告）日 | 1993-10-20 |
| 申请公布号 | CN1077533A | 申请公布日 | 1993-10-20 |
| 分类号 | G01N21/45 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 徐怀方 | 申请（专利权）人 | 上海师大科技开发总公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 200234上海市桂林路十号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种用干涉法测定光学透明材料特别是高折射率材料和各向异性晶体的折射率绝对值的光学仪器，它对待测样品形状的要求仅是有一对平行的通光平面，它对待测折射率的范围无限制。它的干涉仪由于使用同光路干涉模式，因而有极好的稳定性。由于使用了计算机它工作完全是自动化的。它测折射率的精度可达1×10-5。它无需改造便可用来测定连续激光的波长。它测波长的精度可达5×10-10cm。 |
