一种半导体的连接不良检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202110217948.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112858868A | 公开（公告）日 | 2021-05-28 |
| 申请公布号 | CN112858868A | 申请公布日 | 2021-05-28 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R31/66(2020.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 黄澄珵;黄新生 | 申请（专利权）人 | 艾极倍特（上海）半导体设备有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 201400上海市奉贤区南桥镇八字桥路1919号2幢8层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明一种半导体的连接不良检测装置，通过引线键合机、半导体的连接不良检测装置、超声波振荡器、A/D转换器、数字信号处理装置、数据存储装置、确定装置、焊接机控制装置等部件之间的相互配合，与现有技术相比，即使使用相同的半导体元件，电压和电流的有效值也会随着时间的流逝而变化，这是由于焊接机尖端的工具磨损和温度升高而引起的，但是使用常规平均值的设备可以应对这种波动，进而使得其判定标准不是恒定的，提高了测量的精准性。 |
