测试方法、装置、测试设备、被测设备、系统及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111292094.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113961471A | 公开（公告）日 | 2022-01-21 |
| 申请公布号 | CN113961471A | 申请公布日 | 2022-01-21 |
| 分类号 | G06F11/36（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 郭少军;李杰;王欣;李镇江 | 申请（专利权）人 | 上海喜日电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 张欣欣 |
| 地址 | 201100上海市闵行区紫星路588号2幢2093室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供的测试方法、装置、测试设备、被测设备、系统及存储介质，方法包括：获取界面更新数据，其中，界面更新数据是被测设备基于更新后的测试需求生成；根据界面更新数据，更新测试界面；更新后的测试界面包含测试需求；基于更新后的测试界面，对被测设备进行测试。与现有技术中一次性开发的测试界面不同，本发明实施例在执行测试之前，可以由被测设备基于新增的测试需求先生成界面更新数据，并传输给测试设备，以使测试设备对测试界面进行更新，从而避免了重新修改界面工作量较大，降低了测试效率的问题。 |
