一种集成电路芯片电源干扰测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202022797110.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214011427U | 公开（公告）日 | 2021-08-20 |
| 申请公布号 | CN214011427U | 申请公布日 | 2021-08-20 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R31/40（2014.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘静;郭耀华;陈凝;欧阳睿;邹欢;李秀丽 | 申请（专利权）人 | 紫光同芯微电子有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 100083北京市海淀区五道口王庄路1号同方科技广场D座西楼18层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供了一种集成电路芯片电源干扰测试系统，所述测试系统包括干扰波形发生器、计算机、智能卡测试仪、测试夹具和待测芯片，其中，干扰波形发生器具有输出端，待测芯片具有电源端，计算机连接智能卡测试仪，智能卡测试仪连接测试夹具，干扰波形发生器连接测试夹具，待测芯片连接测试夹具，干扰波形发生器的输出端直接连接待测芯片的电源端。待测芯片进行测试时，由于在待测芯片的电源端连续加入电压±3V的脉冲波干扰信号，经过N遍的顺次擦操作、写操作、读操作后，撤除脉冲波干扰信号，直接通过智能卡测试仪确认待测芯片工作状态，且该测试系统及其测试方法，操作方法简单易于实现，能够显著提高待测芯片的测试效率。 |
