一种悬式瓷、玻璃绝缘子结构高度的测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022453160.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213021360U | 公开（公告）日 | 2021-04-20 |
| 申请公布号 | CN213021360U | 申请公布日 | 2021-04-20 |
| 分类号 | G01B5/06(2006.01)I;G01B5/08(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 卢燕龙;周敏杰;蔡洪付;张国晶;李海涛 | 申请（专利权）人 | 武汉耀能科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海精晟知识产权代理有限公司 | 代理人 | 冯子玲 |
| 地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道303号光谷芯中心三期(2014-071)4-02幢4层2厂房单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种悬式瓷、玻璃绝缘子结构高度的测试装置，属于测试装置技术领域，其包括升降控制柜，所述升降控制柜的正面分别卡接有控制按钮开关、升降速度调速器和结构高度显示仪，所述升降控制柜的上表面与主支架的底端固定连接，所述主支架的外表面活动连接有径向偏差百分表和轴向偏差百分表，所述径向偏差百分表位于轴向偏差百分表的下方。该悬式瓷、玻璃绝缘子结构高度的测试装置，通过设置有轴向偏差百分表和拉线编码器，通过径向偏差百分表对盘型绝缘子的盘径进行测量，通过轴向偏差百分表对盘型绝缘子的轴直径进行测量，通过拉线编码器对盘型绝缘子的高度进行测量，提高了测量的数据精确度，操作简单，测试方便。 |
