半导体激光芯片低温Bar条测试机
基本信息
申请号 | CN201921540612.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN210513626U | 公开(公告)日 | 2020-05-12 |
申请公布号 | CN210513626U | 申请公布日 | 2020-05-12 |
分类号 | G01M11/00 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 杜海洋 | 申请(专利权)人 | 河北圣源光电有限公司 |
代理机构 | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 | 代理人 | 贺征华 |
地址 | 050200 河北省石家庄市鹿泉经济开发区昌盛大街21号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了半导体激光芯片低温Bar条测试机,包括机箱、温控箱和激光打标台,机箱的顶端固定安装有温控箱,温控箱与机箱之间活动安装有转盘,温控箱的顶端中部固定安装有驱动电机,驱动电机的底端传动连接有转轴,转轴贯穿于温控箱内,并与转盘卡接,温控箱的顶端边侧活动安装有六个箱门,本实用新型,在工作时,工作人员可启动并控制驱动电机运行,从而使得转轴带动转盘进行转动,使得bar条逐依接触触头,从而控制激光打标台进行激光雕刻工作,在该过程中,可通过控制温控箱来尝试不同温度下bar条的工作效果,从而在测试bar条工作状态的同时,找到最适合相应bar条的工作温度,以方便调控bar条在工作中发挥出最大效率。 |
