半导体激光芯片低温Bar条测试机

基本信息

申请号 CN201921540612.4 申请日 -
公开(公告)号 CN210513626U 公开(公告)日 2020-05-12
申请公布号 CN210513626U 申请公布日 2020-05-12
分类号 G01M11/00 分类 测量;测试;
发明人 杜海洋 申请(专利权)人 河北圣源光电有限公司
代理机构 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 代理人 贺征华
地址 050200 河北省石家庄市鹿泉经济开发区昌盛大街21号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了半导体激光芯片低温Bar条测试机,包括机箱、温控箱和激光打标台,机箱的顶端固定安装有温控箱,温控箱与机箱之间活动安装有转盘,温控箱的顶端中部固定安装有驱动电机,驱动电机的底端传动连接有转轴,转轴贯穿于温控箱内,并与转盘卡接,温控箱的顶端边侧活动安装有六个箱门,本实用新型,在工作时,工作人员可启动并控制驱动电机运行,从而使得转轴带动转盘进行转动,使得bar条逐依接触触头,从而控制激光打标台进行激光雕刻工作,在该过程中,可通过控制温控箱来尝试不同温度下bar条的工作效果,从而在测试bar条工作状态的同时,找到最适合相应bar条的工作温度,以方便调控bar条在工作中发挥出最大效率。