一种用于芯片测试的高效率筛分机台
基本信息
| 申请号 | CN202020009083.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212310123U | 公开（公告）日 | 2021-01-08 |
| 申请公布号 | CN212310123U | 申请公布日 | 2021-01-08 |
| 分类号 | B07C5/02(2006.01)I | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 张聂麟;杨刚能;陈金迪 | 申请（专利权）人 | 浙江金华凯宇电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 浙江专橙律师事务所 | 代理人 | 朱孔妙 |
| 地址 | 321200 浙江省金华市武义县科技城凯宇微电子产业园检验车间大楼A栋（自主申报） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于芯片测试的高效率筛分机台，其包括底座；在所述的底座上方两侧设有支撑架；所述的支撑架内侧设有显示屏；所述的底座中部设有旋转圆台；所述的旋转圆台顶部连接有C字型连接杆；所述的连接杆两端均连接有芯片传送圆台；所述的芯片传送圆台顶部设有测试箱体；所述的测试箱体内部被均匀分割成两个空间，每个空间均设有一个测试器；所述的支撑架上分别设于高低温箱体和干燥塔；本实用新型能够同时进行高低温测试和上下料工作，出现测试异常情况时，可快速筛分异常件，提高工作效率。 |
