一种三维测量设备的标定方法
基本信息
申请号 | CN202111375763.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114066996A | 公开(公告)日 | 2022-02-18 |
申请公布号 | CN114066996A | 申请公布日 | 2022-02-18 |
分类号 | G06T7/80(2017.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 张晓元;房徐;张勇;姚毅;杨艺 | 申请(专利权)人 | 北京凌云光子技术有限公司 |
代理机构 | 北京弘权知识产权代理有限公司 | 代理人 | 逯长明;许伟群 |
地址 | 100094北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请提供一种三维测量设备的标定方法,包括获取标定物的标定图像数据和标定物上特征点的空间坐标,其中,所述标定物上特征点的空间坐标根据所述标定物的尺寸获取;根据所述标定图像数据,确定所述标定物上特征点对应成像面特征点的像素坐标;通过畸变模型和成像面特征点的像素坐标确定畸变参数;通过畸变模型确定所述成像面特征点的像素坐标对应的无畸变像素坐标;根据单应性矩阵确定所述空间坐标和所述无畸变像素坐标的变换矩阵,所述变换矩阵用于标定待测物的坐标;本申请通过标定物上特征点的空间坐标和对应的无畸变像素坐标的获取,确定用于标定的变换矩阵,提高三个测量设备的标定精度。 |
