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一种面结构光三维测量系统的校正方法和设备

基本信息

申请号 CN202111423464.X 申请日 -
公开（公告）号 CN114111639A 公开（公告）日 2022-03-01
申请公布号 CN114111639A 申请公布日 2022-03-01
分类号 G01B11/25（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 蔡明杰;房徐;张勇;姚毅;杨艺 申请（专利权）人 北京凌云光子技术有限公司
代理机构 北京弘权知识产权代理有限公司 代理人 逯长明;许伟群
地址 100094北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室
法律状态 -

摘要

摘要 本申请提供一种面结构光三维测量系统的校正方法和设备，包括校正系统中的畸变，获取无畸变测量点的世界坐标系；将世界坐标系下第一方向的有效工作范围划分为N个区间；获取标准校正块在每个区间的表面数据；在每个子区域，确定对应的第一坐标值，子区域为每个区间按预设大小沿世界坐标系的第二方向和第三方向划分得到的；将每个区间所有子区域的第一坐标值进行曲面拟合确定基准校正面；确定每个子区域的补偿量，补偿量为对应的表面数据与基准校正面的偏差量的平均值；建立无畸变测量点的世界坐标系下不同区间下子区域与补偿量的查找表。在摄像机和投影仪畸变校正的基础上，消除系统误差，提高系统的测量精度，满足高精度被测物的测量需求。