质控/校准测试方法、样本分析仪及计算机可读存储介质

基本信息

申请号 CN201910277904.1 申请日 -
公开(公告)号 CN111796106A 公开(公告)日 2020-10-20
申请公布号 CN111796106A 申请公布日 2020-10-20
分类号 G01N35/00(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 许华明;张震 申请(专利权)人 成都深迈瑞医疗电子技术研究院有限公司
代理机构 北京派特恩知识产权代理有限公司 代理人 王姗姗;张颖玲
地址 610000四川省成都市高新区拓新东街81号天府软件园C区10号楼18层
法律状态 -

摘要

摘要 本发明实施例公开了一种质控/校准测试方法、一种样本分析仪及一种计算机可读存储介质,样本分析仪包括具有多个试剂保存位并且构成用于冷藏试剂的试剂仓,在该试剂仓内还设有质控/校准品保存位,该质控/校准测试方法包括:获取对待测质控/校准品的质控/校准测试指令;获取待测质控/校准品的特征信息以及获取待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位的位置信息;根据特征信息和位置信息,控制吸样针移动到待测质控/校准品所在的质控/校准品保存位处吸取指定量的待测质控/校准品;利用指定量的待测质控/校准品进行质控/校准测试。