一种磁芯测试装置
基本信息
申请号 | CN202021765286.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN212568957U | 公开(公告)日 | 2021-02-19 |
申请公布号 | CN212568957U | 申请公布日 | 2021-02-19 |
分类号 | G01R27/26(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 余乐知;金大利;朱爱洲;杨瑞;方玲 | 申请(专利权)人 | 安徽博微新磁科技有限公司 |
代理机构 | 北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 张陆军;张迎新 |
地址 | 230601安徽省合肥市经济技术开发区天门路与锦绣大道交叉口南150米天门湖工业园2号厂房 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型提出一种磁芯测试装置,第一盖体设有n个第一安装部和n个第二安装部,第二盖体设有n个第三安装部和n个第四安装部,第一盖体与第二盖体配合状态下,n个第一安装部和n个第三安装部分别相对,n个第二安装部和n个第四安装部分别相对;第一盖体和第二盖体配合后,第一线束和第二线束抵靠后形成螺旋线圈,磁芯容置在容置空间内,也即位于螺旋线圈内,随后可对磁芯进行测试;由于第一线束和第二线束与磁芯不接触,从而不需要进行绝缘处理,降低了操作复杂性;另外第一线束和第二线束构成多圈绕组,能够均匀包裹整个磁芯,大大减小漏磁通,测试精度更高。 |
