一种显示芯片测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202110380838.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112881902A | 公开（公告）日 | 2021-06-01 |
| 申请公布号 | CN112881902A | 申请公布日 | 2021-06-01 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈弈星;吴庆飞 | 申请（专利权）人 | 南京芯视元电子有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 张洋 |
| 地址 | 210000 江苏省南京市江北新区星火路14号长峰大厦1号试验楼201室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种显示芯片测试设备，涉及显示芯片测试技术领域，包括：处理器与显卡模块电连接，显卡模块与图像存储模块电连接，在电路板上还设置有与显卡模块连接的测试接口，在测试时，可以将已封装显示芯片插接于壳体上的测试接口，使得显卡模块能够调取图像存储模块中预先存储的数据信息然后由显卡模块驱动已封装显示芯片显示对应的图像，完成对已封装显示芯片的显示特性的验证，从而判断其是否合格，进而确保出厂后的已封装显示芯片正常的显示特性，进而提高产品出厂时的质量。同时，通过显示芯片测试设备对已封装显示芯片进行显示特性测试时，能够通过处理器、显卡模块等配合测试程序进行自动化的测试，从而可以提高测试效率。 |
