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测试电路、测试设备以及测试电路测试方法

基本信息

申请号 CN202110485124.3 申请日 -
公开（公告）号 CN113176488A 公开（公告）日 2021-07-27
申请公布号 CN113176488A 申请公布日 2021-07-27
分类号 G01R31/26（2014.01）I;G01R31/52（2020.01）I;G01R31/14（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 陈跃俊;巩志远;刘兴;袁鑫 申请（专利权）人 北京华峰测控技术股份有限公司
代理机构 北京华进京联知识产权代理有限公司 代理人 吴娜娜
地址 100071北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层
法律状态 -

摘要

摘要 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。需要对被测试器件测试时，控制第一开关导通，控制被测试器件开启。此时电源的正极、第一开关、电感、测试端、电源的负极依次连接构成回路。电源给电感充电。电感的电流逐渐增大。当电感的电流增大到一定程度后，控制第一开关断开，并且关断被测试器件、导通第二开关。此时第二开关、电源的正极、电源的负极、二极管、电感的第一端、电感的第二端依次连接形成第二回路。电感中的电流可以依次通过第二开关、电源、二极管释放。电感中的电流还可以被电源回收。因此测试电路能够快速实现电感中的电流清零，便于快速进行下一次的测试，提高了测试效率。