测试电路、测试设备以及测试电路测试方法
基本信息
申请号 | CN202110483061.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113176487A | 公开(公告)日 | 2021-07-27 |
申请公布号 | CN113176487A | 申请公布日 | 2021-07-27 |
分类号 | G01R31/26(2014.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 陈跃俊 | 申请(专利权)人 | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
代理机构 | 北京华进京联知识产权代理有限公司 | 代理人 | 樊春燕 |
地址 | 100071北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。测试电路包括电源、二极管、电感、第一开关、第二开关和测试端。二极管的阴极与电源的正极连接。电感包括第一端和第二端。电感的第一端与二极管的阳极连接。第一开关的一端与电源的正极连接。第一开关的另一端与电感的第二端连接。第二开关的一端与二极管的阳极连接。第二开关的另一端与电源的负极连接。测试端的一端与电感的第二端连接。测试端的另一端与电源的负极连接。测试端用于插接功率二极管。电感中的电流可以在电感、二极管、电源和功率二极管形成回路中快速释放。电感中的电流能够快速降低到零。因此测试电路可以快速启动第二次测试,大大提高测试效率。 |
