测试隔膜耐电气强度的方法
基本信息
| 申请号 | CN202111151484.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114216916A | 公开（公告）日 | 2022-03-22 |
| 申请公布号 | CN114216916A | 申请公布日 | 2022-03-22 |
| 分类号 | G01N23/04（2018.01）I;G01N23/20058（2018.01）I;G01N23/2251（2018.01）I;G01R31/12（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 董秋春;朱滕辉;薛山;刘志刚;史新明;马源;刘杲珺 | 申请（专利权）人 | 中材锂膜有限公司 |
| 代理机构 | 南京天华专利代理有限责任公司 | 代理人 | 刘畅;徐冬涛 |
| 地址 | 277500山东省枣庄市滕州经济开发区顺河西路368号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种测试隔膜耐电气强度的方法，它包括以下步骤：S1、激发电子束或离子束处理隔膜样品；S2、放大成像装置对样品的处理位置进行表征，获得图像数据；S3、根据图像数据中表面结构形变或保持程度判断其耐电气强度。通过本发明方法可以有效判断薄膜微观层面对电气强度的耐受性，以便对比或判断其使用寿命。 |
