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一种液晶屏外观缺陷检测方法、装置及存储介质

基本信息

申请号 CN202110726191.X 申请日 -
公开（公告）号 CN113409290A 公开（公告）日 2021-09-17
申请公布号 CN113409290A 申请公布日 2021-09-17
分类号 G06T7/00（2017.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06K9/46（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分类 计算；推算；计数;
发明人 靳松;张莲莲;田永军;徐博超;陶平;李伟 申请（专利权）人 北京兆维电子（集团）有限责任公司
代理机构 北京轻创知识产权代理有限公司 代理人 尉保芳
地址 100015北京市朝阳区酒仙桥路14号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种液晶屏外观缺陷检测方法、装置及存储介质，方法包括：导入待处理图像集，并逐一对待处理图像集中的待处理图像进行图像预处理，集合预处理后的所有图像得到图像训练集，构建训练模型，并根据图像训练集对训练模型进行模型优化，得到检测模型，导入待检测图像，根据检测模型对待检测图像进行检测，得到液晶屏外观是否存在缺陷的检测结果。本发明避免了人工设计复杂的算法流程，大大降低了研发困难度，并且有着极高的鲁棒性和精度。