缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN201811110575.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109300127A | 公开（公告）日 | 2019-02-01 |
| 申请公布号 | CN109300127A | 申请公布日 | 2019-02-01 |
| 分类号 | G06T7/00;G06T7/62;G06T7/70;G06T5/00 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 周凯;廖方诚;张孟;吴小飞;曾江东;王珂;王文涛;江银凤 | 申请（专利权）人 | 中兴新通讯有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中细软知识产权代理有限公司 | 代理人 | 仉玉新 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市罗湖区莲塘鹏基工业区710栋6楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及一种缺陷检测方法，该方法包括：获取待检测的目标主体对应的目标图像，对所述目标图像进行高斯差分处理得到高斯差分图像，当根据所述高斯差分图像确定所述目标主体中存在多个缺陷时，获取每个缺陷在所述目标图像中的位置，根据每个缺陷的位置计算两两缺陷之间的重合度，根据所述重合度进行缺陷合并，确定与所述目标主体对应的合并后的目标缺陷信息。此外，还提出了一种缺陷检测装置、计算机设备及存储介质。 |
