一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202120248955.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214407969U | 公开（公告）日 | 2021-10-15 |
| 申请公布号 | CN214407969U | 申请公布日 | 2021-10-15 |
| 分类号 | G01M11/00（2006.01）I;G01M11/02（2006.01）I;G01M11/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 薛梦驰;左琼华;唐筱;郭佳鑫;宋志佗;杨先金 | 申请（专利权）人 | 成都泰瑞通信设备检测有限公司 |
| 代理机构 | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 | 代理人 | 徐静 |
| 地址 | 610062四川省成都市高新区科园三路4号1栋1层1号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种双槽平板式光纤微弯损耗测试装置，包括：稳定光源、光功率计、测试尾纤和微弯生成器；所述微弯生成器包括开槽底板、压块和两根金属棒；所述开槽底板上设置有沿宽度方向的双槽；所述双槽的侧视为V型槽；测试时将被测光纤沿所述开槽底板的长度方向且大圈环回放置；所述两根金属棒用于放置在双槽中，并自由地压在所述被测光纤上形成4个支点；所述压块用于放置在两根金属棒上，使所述被测光纤在4个支点处顺着双槽产生微弯；所述稳定光源和光功率计用于通过测试尾纤连接被测光纤的两端进行微弯附加损耗测试。本实用新型的测试装置能够解决现有IEC方法中的问题。 |
