太赫兹频谱单发测量装置和应用
基本信息
| 申请号 | CN202011501359.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114646389A | 公开（公告）日 | 2022-06-21 |
| 申请公布号 | CN114646389A | 申请公布日 | 2022-06-21 |
| 分类号 | G01J3/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 廖国前;王丹;李玉同 | 申请（专利权）人 | 中国科学院物理研究所 |
| 代理机构 | 北京市英智伟诚知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 100190北京市海淀区中关村南三街8号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种太赫兹频谱单发测量装置，包括多通道滤波器、成像系统和探测器，所述多通道滤波器为薄片状，由若干滤波通道构成，每个滤波通道分别对应不同太赫兹频率，所述成像系统无色散，可将通过多通道滤波器的太赫兹成像到探测器上，将所述探测器为面阵，可探测太赫兹的二维强度分布。使用时，使待测太赫兹光束垂直于多通道滤波器入射，透过多通道滤波器，经过成像系统，到达探测器上，统计通过每个滤波通道后的太赫兹强度值，分别除以事先标定的通道滤波效率，得到每个滤波通道所对应太赫兹频率的强度值，进而得到所测太赫兹的频谱。还提供了其应用。本发明装置结构简单，易于实施，可在单发条件下测得太赫兹的频谱。 |
