电极结构、半导体结构和电极结构的制造方法

基本信息

申请号 CN201910752870.7 申请日 -
公开(公告)号 CN110364524B 公开(公告)日 2022-06-17
申请公布号 CN110364524B 申请公布日 2022-06-17
分类号 H01L27/06(2006.01)I;H01L21/822(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 杜益成;王猛;喻慧 申请(专利权)人 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 310051浙江省杭州市滨江区西兴街道联慧街6号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种电极结构,半导体结构以及电极结构的制造方法,所述电极结构包括半导体基底;由所述半导体基底上表面延伸至所述半导体基底内部的沟槽;由所述半导体基底的上表面延伸至所述半导体基底内部的接触区,以及填充在沟槽内部的填充材料,其中,所述接触区与所述沟槽外侧壁相接触。本发明的电极结构用于吸收半导体中电子/空穴,以防止半导体中的寄生结构导通。另外,所述电极结构的面积较小,降低了制造成本。