基于动态步长的模拟电路可靠性仿真方法
基本信息
| 申请号 | CN202210444048.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114692542A | 公开（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申请公布号 | CN114692542A | 申请公布日 | 2022-07-01 |
| 分类号 | G06F30/367（2020.01）I;G06F17/10（2006.01）I;G06F119/02（2020.01）N;G06F119/12（2020.01）N | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 李聪;董啸宇;吕松松;成善霖;游海龙 | 申请（专利权）人 | 西安电子科技大学 |
| 代理机构 | 陕西电子工业专利中心 | 代理人 | - |
| 地址 | 710071陕西省西安市太白南路2号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种基于动态步长的模拟电路可靠性仿真方法，主要解决现有技术不能贴合器件实际退化情况，仿真精度和速度不能兼顾的问题。其实现方案是：从电路仿真输入文件中读取设定的退化时间T及s个步长；计算初始步长时间t0＝T/s,并将其赋值给各步长；输入器件退化模型函数，计算其随时间的退化速率函数f（t）；通过器件退化函数在不同时刻的退化速率f（t）对s个值为t0的步长进行放缩计算，得到一组动态步长；使用动态步长进行电路可靠性仿真，得到电路特征指标的退化结果。本发明提高了可靠性仿真精度，并通过设置仿真的步长数量，使得可靠性仿真时间变得预算可控，可用于预测电路性能随时间的退化关系及电路的寿命。 |
